Vores placering
Værelse 503, blok 1, Juzili Building, Sandun Town, Hangzhou City, Zhejiang-provinsen. Kina.
Præcision i hver eneste forbindelse
Måling af resistivitet og lagmodstand med høj præcision
Mål resistivitet, overflademodstand og volumenmodstand i tynde film, halvledere, siliciumskiver og faste materialer med laboratorienøjagtighed. Anbefalet af Tsinghua-universitetet, Beihang-universitetet og University of Queensland.
Anbefalet af førende forskningsinstitutioner
En firepunkts-probe-tester måler elektrisk modstand, resistivitet og overflademodstand i faste materialer ved at føre strøm gennem to ydre prober og måle spændingen mellem to indre prober. Denne firepunktsmetode eliminerer kontaktmodstanden fra målingen og giver dermed en betydeligt højere nøjagtighed end to-punktsmetoder.
Det er standardmetoden inden for materialevidenskab og halvlederforskning til karakterisering af tynde film, halvlederplader, ledende belægninger og faste prøver i bulkform.
Bemærk: Firepunkts-måleapparater er udelukkende beregnet til faste materialer. Væsker og pulvere kan ikke måles direkte — væskeprøver skal først størknes til en tynd film, før de kan testes.
Tre modeller udviklet til forskellige laboratoriebehov — lige fra manuel betjening på indgangsniveau til fuldautomatisk testning med høj kapacitet.
Fuldstændige tekniske specifikationer for alle tre modeller. Alle QSNTECH-instrumenter opnår en måleusikkerhed på ≤2%, hvilket er væsentligt bedre end branchestandarden på ≤5%.
| Specifikation | SZT-2A | SZT-2B | SZT-2C |
|---|---|---|---|
| Resistivitetsområde | 10⁻⁴ ~ 10⁵ Ω·cm | 10⁻⁴ ~ 10⁶ Ω·cm | 10-⁵ ~ 10⁵ Ω-cm |
| Modstand mod plader | 10-⁴ ~ 10⁵ Ω/□ | 10-⁴ ~ 10⁶ Ω/□ | 10-⁴ ~ 10⁶ Ω/□ |
| Modstandsområde | 10-⁴ ~ 10⁵ Ω | 10⁻⁴ ~ 10⁶ Ω | 10-⁵ ~ 10⁵ Ω |
| Strømudgang | DC 0–100 mA 10 μA / 100 μA / 1 / 10 / 100 mA |
DC 0–100 mA 1 / 10 / 100 μA, 1 / 10 / 100 mA |
0,1 μA–100 mA Trinløst justerbar |
| Målefejl | ±0,51 TP3T ±1 ciffer | ±0,51 TP3T ±1 ciffer | ±0,11 TP3T (spænding) |
| Usikkerhed | ≤2% | ≤2% | ≤2% |
| Skærm | 4½-cifret LCD-display | LCD | 4½-cifret farve-LCD-skærm |
| Afstand mellem prober | 1 mm | 1 mm | 1 mm ±0,01 mm Kan tilpasses |
| Probe-materiale | Wolframkarbid | Wolframkarbid | Wolframkarbid |
| Stikprøvens størrelse | Ø5–200 mm Længde ≤400 mm |
Ø5–200 mm Længde ≤400 mm |
Kan tilpasses |
| Korrektionsfaktor | ✓ Automatisk | ✓ Automatisk | ✓ Automatisk |
| PC-software | ✓ Medfølger | ✓ Medfølger | ✓ USB + software |
| Automatisk testplatform | — | Valgfrit | ✓ Medfølger |
| Strømforsyning | 220 V ±10% 50/60 Hz < 35 W |
220 V ±10% 50/60 Hz |
220 V ±10% 50/60 Hz |
| Bedst til | Standard anvendelse i laboratoriet Tynde film og wafers |
Forskning og halvledere Største måleområde |
Høj kapacitet Industri og automatisering |
Bemærkning om korrektionsfaktoren: Alle tre modeller anvender automatisk den geometriske korrektionsfaktor (baseret på Smits’ formel) i henhold til prøvens form og dimensioner. Du skal blot indtaste prøvens tykkelse og diameter — instrumentet beregner den korrekte faktor uden manuel justering. Dette er især vigtigt for prøver, der ikke er uendeligt store i forhold til sondernes afstand.
De fulde specifikationsark kan downloades nedenfor. Kontakt os for at få bekræftet, om de er kompatible med netop din prøvetype.
Sonden er den mest afgørende komponent i et firepunkts-sondesystem. Valget af den rigtige geometri og afstand mellem sondespidserne til din prøvetype har direkte indflydelse på målenøjagtigheden.
Spidsradius på 1 mm. Egnet til de fleste tynde filmprøver og faste prøver i løs vægt. Standardafstand mellem sonderne på 1 mm.
Bedst egnet til: Generel laboratoriebrug, tynde film, halvlederplader
Mindre kontaktflade til skrøbelige eller tynde prøver, hvor der er behov for reduceret tryk fra sonden og minimal overfladeskade.
Bedst egnet til: Skrøbelige film, bløde halvlederoverflader
Der tilbydes ikke-standardiserede probeafstande til specifikke prøvedimensioner eller forskningskrav. Kontakt os med dine specifikationer.
Bedst egnet til: Skræddersyet forskning, atypiske stikprøvestørrelser
Valgfri opgradering
Manuel placering af sonden medfører variation i den påførte kraft — en væsentlig kilde til målefejl. Den automatiske testplatform eliminerer dette ved at sikre et ensartet og kontrolleret sondetryk ved hver eneste måling.
Alle systemer i SZT-serien leveres som en komplet, brugsklar pakke. Der kræves ingen yderligere komponenter for at kunne påbegynde målingerne.
Der findes fuldstændig dokumentation, som du kan se inden købet. Gennemgå specifikationer, betjeningsvejledninger og modelsammenligninger, inden du sender din forespørgsel.
Vores instrumenter anvendes inden for akademisk forskning, statslige laboratorier og industrielle produktionsmiljøer.
Institutter for materialevidenskab, fysik, elektronik og kemi, der foretager målinger af tyndfilmprøver, halvledersubstrater og forskningsprøver.
Tsinghua · Beihang · Queensland
Offentlige og private forskningsinstitutter, der karakteriserer avancerede materialer, nye belægninger og eksperimentelle halvlederstrukturer, hvor målenøjagtighed og datasporbarhed er af afgørende betydning.
Kvalitetskontrol af halvlederplader, overvågning af tyndfilmsafsætning, kontrol af ITO-belægningens ensartethed samt kontrol af indgående materialer inden for elektronikproduktion.
Grundige vejledninger skrevet ud fra producentens perspektiv, der skal hjælpe dig med at vælge, bruge og få mest muligt ud af dit firepunkts-målesystem.
Nej. Firepunkts-sondemetoden kræver faste prøver med en stabil, plan overflade. Væsker kan ikke måles direkte. Hvis din prøve er et materiale i væskefase, skal den først påføres eller størkne til en tynd film inden målingen.
Resistiviteten (Ω·cm) er en egenskab ved materialet som helhed, der er uafhængig af prøvens geometri. Arkmodstanden (Ω/□) anvendes til tynde film, hvor tykkelsen er ensartet — den angiver modstanden pr. kvadrat af en vilkårlig størrelse. Vores instrumenter kan måle og vise begge værdier direkte.
For de fleste universitetslaboratorier inden for materialevidenskab eller elektronik er modellen SZT-2A eller SZT-2B tilstrækkelig. Hvis dit laboratorium behandler store prøvemængder, har behov for batchtest eller arbejder med skrøbelige wafers, anbefales modellen SZT-2C med automatisk testplatform.
SZT-serien understøtter et bredt udvalg af prøvestørrelser. Det mindste anvendelige prøveareal afhænger af sondernes afstand. Kontakt os med oplysninger om dine specifikke prøvedimensioner, så kan vi bekræfte kompatibiliteten og anbefale korrektionsfaktorer.
Ja. Alle tre modeller leveres med pc-software til dataindsamling, lagring og eksport. Softwaren viser måleresultaterne i realtid og understøtter eksport af data til videre analyse i Excel eller laboratoriedatahåndteringssystemer.
Ja. Vi eksporterer til universiteter, forskningsinstitutioner og importører over hele verden. Teknisk dokumentation, brugervejledninger og kundeservice leveres på engelsk. Kontakt os for at få oplysninger om leveringstider og krav til tolddokumentation.
Uanset om du har brug for en standardmodel, en specialtilpasset sondekonfiguration eller ønsker at drøfte, hvilket system der passer bedst til din prøvetype og dit forskningsforløb — så står vores team klar til at hjælpe.