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Bureau 503, bloc 1, immeuble Juzili, ville de Sandun, ville de Hangzhou, province du Zhejiang. Chine.
La précision dans chaque raccordement
Mesure de haute précision de la résistivité et de la résistance de feuille
Mesurez la résistivité, la résistance de surface et la résistance volumique des films minces, des semi-conducteurs, des plaquettes de silicium et des matériaux solides avec une précision de niveau laboratoire. Des établissements tels que l'université de Tsinghua, l'université de Beihang et l'université du Queensland lui font confiance.
Reconnu par les principaux instituts de recherche
Un testeur à quatre sondes mesure la résistance électrique, la résistivité et la résistance de surface des matériaux solides en faisant passer un courant à travers les deux sondes extérieures et en mesurant la tension entre les deux sondes intérieures. Cette méthode à quatre sondes élimine la résistance de contact de la mesure, offrant ainsi une précision nettement supérieure à celle des méthodes à deux sondes.
Il s'agit de la méthode standard utilisée en science des matériaux et dans la recherche sur les semi-conducteurs pour caractériser les films minces, les plaquettes de semi-conducteurs, les revêtements conducteurs et les échantillons solides massifs.
Remarque : Les testeurs à quatre pointes sont conçus exclusivement pour les matériaux solides. Les liquides et les poudres ne peuvent pas être mesurés directement : les échantillons liquides doivent d'abord être solidifiés sous forme de fine couche avant d'être testés.
Trois modèles conçus pour répondre à différents besoins en laboratoire — allant d'une utilisation manuelle d'entrée de gamme à des tests à haut débit entièrement automatisés.
Caractéristiques techniques complètes des trois modèles. Tous les instruments QSNTECH présentent une incertitude de mesure ≤ 2%, ce qui est nettement supérieur à la norme industrielle de ≤ 5%.
| Caractéristiques techniques | SZT-2A | SZT-2B | SZT-2C |
|---|---|---|---|
| Plage de résistivité | 10⁻⁴ ~ 10⁵ Ω·cm | 10⁻⁴ ~ 10⁶ Ω·cm | 10⁻⁵ ~ 10⁵ Ω·cm |
| Résistance de surface | 10⁻⁴ ~ 10⁵ Ω/□ | 10⁻⁴ ~ 10⁶ Ω/□ | 10⁻⁴ ~ 10⁶ Ω/□ |
| Plage de résistance | 10⁻⁴ ~ 10⁵ Ω | 10⁻⁴ ~ 10⁶ Ω | 10⁻⁵ ~ 10⁵ Ω |
| Courant de sortie | 0 à 100 mA CC 10 μA / 100 μA / 1 / 10 / 100 mA |
0 à 100 mA CC 1 / 10 / 100 μA, 1 / 10 / 100 mA |
0,1 μA – 100 mA Réglable en continu |
| Erreur de mesure | ±0,51 TP3T ±1 chiffre | ±0,51 TP3T ±1 chiffre | ±0,11 TP3T (tension) |
| Incertitude | ≤2% | ≤2% | ≤2% |
| Affichage | Écran LCD à 4½ chiffres | LCD | Écran LCD couleur à 4½ chiffres |
| Espacement des sondes | 1 mm | 1 mm | 1 mm ± 0,01 mm Personnalisable |
| Matériau de la sonde | Carbure de tungstène | Carbure de tungstène | Carbure de tungstène |
| Taille de l'échantillon | Ø 5–200 mm Longueur ≤ 400 mm |
Ø 5–200 mm Longueur ≤ 400 mm |
Personnalisable |
| Facteur de correction | ✓ Automatique | ✓ Automatique | ✓ Automatique |
| Logiciels pour PC | ✓ Inclus | ✓ Inclus | ✓ USB + logiciel |
| Plateforme de tests automatiques | — | Facultatif | ✓ Inclus |
| Alimentation électrique | 220 V ±10% 50/60 Hz < 35 W |
220 V ±10% 50/60 Hz |
220 V ±10% 50/60 Hz |
| Idéal pour | Utilisation standard en laboratoire Couches minces et plaquettes |
Recherche et semi-conducteurs Plage de mesure la plus large |
Haut débit Industrie et automatisation |
Remarque concernant le facteur de correction : Ces trois modèles appliquent automatiquement le facteur de correction géométrique (basé sur la formule de Smits) en fonction de la forme et des dimensions de votre échantillon. Il vous suffit de saisir l'épaisseur et le diamètre de l'échantillon : l'instrument calcule alors le facteur approprié sans qu'aucun réglage manuel ne soit nécessaire. Ceci est particulièrement important pour les échantillons dont les dimensions ne sont pas infiniment grandes par rapport à l'écartement des sondes.
Les fiches techniques complètes sont disponibles en téléchargement ci-dessous. Contactez-nous pour vérifier la compatibilité avec votre type d'échantillon spécifique.
La sonde est le composant le plus crucial d'un système à quatre pointes. Le choix d'une géométrie et d'un espacement adaptés de la pointe de la sonde en fonction du type d'échantillon a une incidence directe sur la précision de la mesure.
Rayon de pointe de 1 mm. Convient à la plupart des échantillons de couches minces et de solides en vrac. Espacement standard des sondes : 1 mm.
Idéal pour : utilisation générale en laboratoire, films minces, plaquettes de semi-conducteurs
Surface de contact réduite pour les échantillons fragiles ou fins, nécessitant une pression réduite de la sonde et un endommagement minimal de la surface.
Idéal pour : les films fragiles, les surfaces souples de semi-conducteurs
Des espacements de sondes non standard sont disponibles pour s'adapter à des dimensions d'échantillons spécifiques ou à des exigences de recherche particulières. N'hésitez pas à nous contacter pour nous communiquer vos spécifications.
Idéal pour : études sur mesure, échantillons de taille atypique
Mise à niveau facultative
Le positionnement manuel des sondes entraîne une variabilité de la force appliquée, ce qui constitue une source majeure d'erreur de mesure. La plateforme de test automatique élimine ce problème en exerçant une pression constante et contrôlée sur les sondes à chaque mesure.
Chaque système de la série SZT est livré sous forme d'ensemble complet et prêt à l'emploi. Aucun composant supplémentaire n'est nécessaire pour commencer à effectuer des mesures.
Une documentation complète est disponible avant l'achat. Consultez les caractéristiques techniques, les procédures d'utilisation et les comparaisons entre modèles avant d'envoyer votre demande.
Nos instruments sont utilisés dans le domaine de la recherche universitaire, dans les laboratoires publics et dans les environnements de production industrielle.
Les départements de science des matériaux, de physique, d'électronique et de chimie qui effectuent des mesures sur des échantillons de couches minces, des substrats semi-conducteurs et des échantillons de recherche.
Tsinghua · Beihang · Queensland
Des instituts de recherche publics et privés spécialisés dans la caractérisation de matériaux de pointe, de revêtements innovants et de structures expérimentales à semi-conducteurs, pour lesquels la précision des mesures et la traçabilité des données sont essentielles.
Contrôle qualité de la production de plaquettes de semi-conducteurs, suivi du dépôt de couches minces, vérification de l'uniformité du revêtement ITO et contrôle des matières premières à leur réception dans le cadre de la fabrication de composants électroniques.
Des guides détaillés rédigés du point de vue du fabricant pour vous aider à choisir, à utiliser et à tirer le meilleur parti de votre système de sondes à quatre points.
Non. La méthode à quatre pointes nécessite des échantillons solides présentant une surface plane et stable. Les liquides ne peuvent pas être mesurés directement. Si votre échantillon se présente sous forme liquide, il doit d'abord être déposé ou solidifié sous forme de film mince avant la mesure.
La résistivité (Ω·cm) est une propriété intrinsèque du matériau, indépendante de la géométrie de l'échantillon. La résistance de surface (Ω/□) est utilisée pour les films minces dont l'épaisseur est uniforme ; elle correspond à la résistance par unité de surface, quelle que soit la taille de celle-ci. Nos instruments permettent de mesurer et d'afficher directement ces deux valeurs.
Pour la plupart des laboratoires universitaires de science des matériaux ou d'électronique, les modèles SZT-2A ou SZT-2B sont suffisants. Si votre laboratoire traite des volumes élevés d'échantillons, a besoin de réaliser des tests par lots ou travaille avec des plaquettes fragiles, le modèle SZT-2C, équipé d'une plate-forme de test automatique, est recommandé.
La série SZT prend en charge une large gamme de tailles d'échantillons. La surface minimale utilisable de l'échantillon dépend de l'espacement entre les sondes. N'hésitez pas à nous contacter en nous indiquant les dimensions spécifiques de votre échantillon : nous pourrons ainsi vérifier la compatibilité et vous recommander des facteurs de correction.
Oui. Les trois modèles sont fournis avec un logiciel PC permettant l'acquisition, le stockage et l'exportation des données. Ce logiciel affiche les résultats des mesures en temps réel et permet d'exporter les données afin de les analyser ultérieurement dans Excel ou dans des systèmes de gestion des données de laboratoire.
Oui. Nous exportons vers des universités, des instituts de recherche et des importateurs du monde entier. La documentation technique, les manuels d'utilisation et le service après-vente sont fournis en anglais. Contactez-nous pour connaître les délais de livraison et les formalités douanières requises.
Que vous ayez besoin d'un modèle standard, d'une configuration de sonde sur mesure, ou que vous souhaitiez discuter du système le mieux adapté à votre type d'échantillon et à votre processus de recherche, notre équipe est là pour vous aider.