Lokasi Kami
Kamar 503, blok 1, Gedung Juzili, Kota Sandun, Kota Hangzhou, Provinsi Zhejiang. Cina.
QIANSINENG
Ketepatan dalam Setiap Koneksi
Pengukuran Resistivitas dan Resistansi Lembaran dengan Presisi Tinggi
Penguji Probe Empat Titik
Ukur resistivitas, resistansi lembaran, dan resistansi volume pada lapisan tipis, semikonduktor, wafer silikon, dan bahan padat dengan presisi tingkat laboratorium. Dipercaya oleh Universitas Tsinghua, Universitas Beihang, dan Universitas Queensland.
✓ Resistivitas
✓ Resistansi Lembaran
✓ Ketahanan terhadap beban besar
✓ Termasuk Perangkat Lunak PC
✓ Platform Pengujian Otomatis Tersedia
Dipercaya oleh Lembaga Penelitian Terkemuka
🎓
Universitas Tsinghua
Jurusan Ilmu Material.
🎓
Universitas Beihang
Laboratorium Penelitian Elektronika
🎓
Universitas Queensland
Australia
🏭
20+ Tahun
Pengalaman di Bidang Manufaktur
Apa Itu Penguji Probe Empat Titik?
Alat penguji empat probe mengukur resistansi listrik, resistivitas, dan resistansi lembaran pada bahan padat dengan mengalirkan arus melalui dua probe luar dan mengukur tegangan antara dua probe dalam. Metode empat probe ini menghilangkan resistansi kontak dari pengukuran, sehingga menghasilkan akurasi yang jauh lebih tinggi dibandingkan metode dua probe.
Ini merupakan metode standar dalam ilmu material dan penelitian semikonduktor untuk mengkarakterisasi lapisan tipis, wafer semikonduktor, lapisan konduktif, dan sampel padat.
Catatan: Alat uji empat titik dirancang khusus untuk bahan padat saja. Cairan dan bubuk tidak dapat diukur secara langsung — sampel cair harus terlebih dahulu dipadatkan menjadi lapisan tipis sebelum diuji.
Apa Saja yang Dapat Diukur
✓ Lapisan tipis
✓ Wafer silikon
✓ Bahan semikonduktor
✓ Lapisan konduktif
✓ Kaca ITO
✓ Lembaran logam
✓ Sampel bahan padat dalam jumlah besar
✓ Lapisan tipis yang telah mengeras
Aplikasi Sasaran
✗ Sampel cair
✗ Bahan berbentuk bubuk
Pilih Model Anda
Tiga model yang dirancang untuk memenuhi berbagai kebutuhan laboratorium — mulai dari pengoperasian manual tingkat pemula hingga pengujian berkapasitas tinggi yang sepenuhnya otomatis.
Perbandingan Model Secara Terperinci
Spesifikasi teknis lengkap untuk ketiga model tersebut. Semua instrumen QSNTECH mencapai ketidakpastian pengukuran ≤2%, yang jauh lebih baik daripada standar industri sebesar ≤5%.
| Spesifikasi | SZT-2A | SZT-2B | SZT-2C |
|---|---|---|---|
| Rentang Resistivitas | 10⁻⁴ ~ 10⁵ Ω·cm | 10⁻⁴ ~ 10⁶ Ω·cm | 10-⁵ ~ 10⁵ Ω-cm |
| Resistansi Lembaran | 10⁻⁴ hingga 10⁵ Ω/m² | 10-⁴ ~ 10⁶ Ω/□ | 10-⁴ ~ 10⁶ Ω/□ |
| Rentang Perlawanan | 10⁻⁴ hingga 10⁵ Ω | 10⁻⁴ ~ 10⁶ Ω | 10-⁵ ~ 10⁵ Ω |
| Output Saat Ini | DC 0–100 mA 10 μA / 100 μA / 1 / 10 / 100 mA |
DC 0–100 mA 1 / 10 / 100 μA, 1 / 10 / 100 mA |
0,1 μA–100 mA Dapat disesuaikan secara bertahap |
| Kesalahan Pengukuran | ±0,51 TP3T ±1 digit | ±0,51 TP3T ±1 digit | ±0,11 TP3T (tegangan) |
| Ketidakpastian | ≤2% | ≤2% | ≤2% |
| Tampilan | LCD 4½ digit | LCD | LCD berwarna 4½ digit |
| Jarak Probe | 1mm | 1mm | 1 mm ±0,01 mm Dapat disesuaikan |
| Bahan Penyelidikan | Karbida tungsten | Karbida tungsten | Karbida tungsten |
| Ukuran Sampel | Ø5–200 mm Panjang ≤400 mm |
Ø5–200 mm Panjang ≤400 mm |
Dapat disesuaikan |
| Faktor Koreksi | ✓ Otomatis | ✓ Otomatis | ✓ Otomatis |
| Perangkat Lunak PC | ✓ Termasuk | ✓ Termasuk | ✓ USB + Perangkat Lunak |
| Platform Pengujian Otomatis | - | Opsional | ✓ Termasuk |
| Catu Daya | 220 V ±101 TP3T 50/60 Hz <35 W |
220 V ±101 TP3T 50/60Hz |
220 V ±101 TP3T 50/60Hz |
| Terbaik untuk | Penggunaan standar di laboratorium Lapisan tipis & wafer |
Penelitian & semikonduktor Rentang pengukuran terluas |
Berkapasitas tinggi Industri & otomatisasi |
Catatan mengenai Faktor Koreksi: Ketiga model tersebut secara otomatis menerapkan faktor koreksi geometris (berdasarkan rumus Smits) sesuai dengan bentuk dan dimensi sampel Anda. Cukup masukkan ketebalan dan diameter sampel — instrumen akan menghitung faktor yang tepat tanpa perlu penyesuaian manual. Hal ini sangat penting terutama untuk sampel yang ukurannya tidak tak terhingga jika dibandingkan dengan jarak antar probe.
Lembar spesifikasi lengkap dapat diunduh di bawah ini. Silakan hubungi kami untuk memastikan kompatibilitasnya dengan jenis sampel Anda.
Mengapa Memilih QSNTECH Dibandingkan Produsen Lain
≤2%
Ketidakpastian Pengukuran
vs ≤5%, yang umum ditemui pada pesaing dalam negeri
0,1 mΩ
Resolusi Minimum
Sirkuit presisi tinggi untuk sampel dengan resistansi rendah
WC
Sensor Karbida Tungsten
Lebih unggul daripada probe baja berkecepatan tinggi yang digunakan oleh merek lain
Otomatis
Faktor Koreksi
Tidak perlu penyesuaian manual — semua model
Panduan Pemilihan Probe
Probe merupakan komponen paling penting dalam sistem probe empat titik. Pemilihan geometri ujung probe dan jarak yang tepat sesuai dengan jenis sampel Anda secara langsung memengaruhi akurasi pengukuran.
Probe Tungsten Standar
Jari-jari ujung 1 mm. Cocok untuk sebagian besar sampel lapisan tipis dan sampel padat. Jarak probe standar sebesar 1 mm.
Cocok untuk: Penggunaan laboratorium umum, lapisan tipis, wafer semikonduktor
Sensor Berujung Halus
Area kontak yang lebih kecil untuk sampel yang rapuh atau tipis, di mana diperlukan tekanan probe yang lebih rendah dan kerusakan permukaan yang minimal.
Paling cocok untuk: Film yang rapuh, permukaan semikonduktor yang lembut
Jarak Probe Sesuai Pesanan
Tersedia jarak probe non-standar untuk dimensi sampel tertentu atau kebutuhan penelitian. Silakan hubungi kami dengan spesifikasi Anda.
Cocok untuk: Penelitian khusus, ukuran sampel yang tidak standar
Peningkatan Opsional
Mengapa Memilih Platform Pengujian Otomatis?
Penempatan probe secara manual menyebabkan variasi pada gaya yang diterapkan — yang merupakan sumber utama kesalahan pengukuran. Platform pengujian otomatis menghilangkan hal ini dengan memberikan tekanan probe yang konsisten dan terkendali pada setiap pengukuran.
1
Tekanan Probe yang Konsisten
Menghilangkan variabilitas yang bergantung pada operator. Setiap pengukuran menggunakan gaya yang sama dan terkendali.
2
Memperpanjang Masa Pakai Probe
Penurunan terkendali mengurangi tekanan mekanis pada ujung probe, sehingga secara signifikan menurunkan frekuensi penggantian dan biayanya.
3
Laju Pengolahan yang Lebih Tinggi
Siklus pengukuran yang lebih cepat dengan penempatan yang konsisten. Cocok untuk pengendalian mutu (QC) dalam produksi dan pengambilan sampel penelitian dalam skala besar.
4
Perlindungan Sampel
Mencegah kerusakan pada sampel yang rapuh atau mahal akibat tekanan manual yang berlebihan.
Apa Saja yang Termasuk
Setiap sistem seri SZT dikirim dalam bentuk paket lengkap yang siap digunakan. Tidak diperlukan komponen tambahan untuk mulai melakukan pengukuran.
🖥️
Peralatan Utama
Dilengkapi antarmuka USB dan layar LCD 4½ digit
🔧
Rangka Uji Otomatis
Perangkat pendeteksi otomatis, mengontrol tekanan probe
💾
Perangkat Lunak PC
Pengumpulan, penyimpanan, dan ekspor data
📖
Panduan dalam Bahasa Inggris
Dokumentasi lengkap mengenai pengoperasian dan spesifikasi
🔌
Kabel
Kabel penghubung untuk kepala probe
📍
Kepala Probe 4 Titik
Ujung karbida tungsten, jarak 1 mm
Unduhan Teknis
Dokumentasi lengkap tersedia sebelum pembelian. Silakan tinjau spesifikasi, prosedur pengoperasian, dan perbandingan model sebelum mengirimkan pertanyaan Anda.
📄
↓ Unduh
📊
↓ Unduh
📘
↓ Unduh
📘
↓ Unduh
📘
↓ Unduh
🔩
↓ Unduh
Katalog Produk
Ikhtisar semua model — PDF
Panduan Perbandingan Model
SZT-2A vs 2B vs 2C — PDF
Panduan Penggunaan SZT-2A
Panduan Pengoperasian dalam Bahasa Inggris — PDF
Panduan Penggunaan SZT-2B
Panduan Pengoperasian dalam Bahasa Inggris — PDF
Panduan Penggunaan SZT-2C
Panduan Pengoperasian dalam Bahasa Inggris — PDF
Spesifikasi Probe
Jenis dan pemilihan probe — PDF
Siapa Saja yang Menggunakan Alat Uji Probe Empat Titik?
Alat-alat kami digunakan di berbagai bidang, mulai dari penelitian akademis, laboratorium pemerintah, hingga lingkungan produksi industri.
🎓
Fakultas di Universitas
Jurusan ilmu material, fisika, elektronika, dan kimia yang melakukan pengukuran terhadap sampel lapisan tipis, substrat semikonduktor, dan spesimen penelitian.
Tsinghua · Beihang · Queensland
🔬
Lembaga Penelitian
Lembaga penelitian pemerintah dan swasta yang melakukan karakterisasi terhadap bahan-bahan canggih, lapisan pelapis inovatif, dan struktur semikonduktor eksperimental, di mana akurasi pengukuran dan ketertelusuran data sangat penting.
🏭
Semikonduktor & Industri
Pengendalian mutu produksi untuk wafer semikonduktor, pemantauan proses pengendapan lapisan tipis, pemeriksaan keseragaman lapisan ITO, serta pemeriksaan bahan baku yang masuk dalam proses manufaktur elektronik.
Sumber Daya Teknis
Panduan mendalam yang ditulis dari sudut pandang produsen untuk membantu Anda memilih, menggunakan, dan memaksimalkan manfaat sistem probe empat titik Anda.
📋
Cara Memilih Penguji Probe Empat Titik
Parameter utama yang perlu dievaluasi sebelum membeli — jangkauan arus, ukuran sampel, jarak antar probe, dan kebutuhan otomatisasi.
🎓
Panduan Pengadaan untuk Laboratorium Universitas
Panduan praktis pembelian untuk jurusan ilmu material dan elektronika — hal-hal yang perlu diperhatikan dan yang harus dihindari.
🔬
Probe Empat Titik untuk Lapisan Tipis
Cara mengukur resistansi lembaran dan resistivitas sampel film tipis secara akurat dengan panduan faktor koreksi.
⚡
Beragam Aplikasi Probe Empat Titik
Mulai dari wafer semikonduktor hingga kaca ITO — gambaran menyeluruh mengenai aplikasi pengukuran dan jenis sampel.
🤖
Platform Pengujian Otomatis vs Manual
Perbandingan terperinci antara dudukan probe otomatis dan manual — akurasi, masa pakai probe, produktivitas, dan biaya.
🔩
Panduan Pemilihan Probe
Cara memilih geometri ujung probe, jarak antar probe, dan bahan yang sesuai untuk jenis sampel dan aplikasi pengukuran Anda.
Pertanyaan yang Sering Diajukan
Apakah saya bisa mengukur cairan atau bubuk?
Tidak. Metode probe empat titik memerlukan sampel padat dengan permukaan datar yang stabil. Cairan tidak dapat diukur secara langsung. Jika sampel Anda berupa bahan dalam fase cair, sampel tersebut harus terlebih dahulu diendapkan atau dipadatkan menjadi lapisan tipis sebelum diukur.
Apa perbedaan antara resistivitas dan resistansi lembaran?
Resistivitas (Ω·cm) merupakan sifat material secara keseluruhan yang tidak bergantung pada geometri sampel. Resistansi lembaran (Ω/□) digunakan untuk lapisan tipis yang memiliki ketebalan seragam — nilai ini menunjukkan resistansi per satuan luas, terlepas dari ukuran luasnya. Alat-alat kami dapat mengukur dan menampilkan kedua nilai tersebut secara langsung.
Model mana yang cocok untuk laboratorium universitas saya?
Bagi sebagian besar laboratorium ilmu material atau elektronika di perguruan tinggi, model SZT-2A atau SZT-2B sudah memadai. Jika laboratorium Anda menangani volume sampel yang besar, memerlukan pengujian secara batch, atau menangani wafer yang rapuh, disarankan untuk menggunakan model SZT-2C yang dilengkapi dengan platform pengujian otomatis.
Ukuran dan ketebalan sampel apa saja yang dapat diukur?
Seri SZT mendukung berbagai ukuran sampel. Luas sampel minimum yang dapat digunakan bergantung pada jarak antar probe. Silakan hubungi kami dengan mencantumkan dimensi sampel Anda secara spesifik, sehingga kami dapat memastikan kompatibilitasnya dan merekomendasikan faktor koreksi.
Apakah Anda menyediakan perangkat lunak PC dan layanan ekspor data?
Ya. Ketiga model tersebut dilengkapi dengan perangkat lunak PC untuk pengumpulan, penyimpanan, dan ekspor data. Perangkat lunak tersebut menampilkan hasil pengukuran secara real time dan mendukung ekspor data untuk analisis lebih lanjut di Excel atau sistem manajemen data laboratorium.
Apakah Anda dapat mengirim barang ke luar negeri dan menyediakan dukungan teknis?
Ya. Kami mengekspor produk ke universitas, lembaga penelitian, dan importir di seluruh dunia. Dokumentasi teknis, panduan pengguna, dan layanan purna jual disediakan dalam bahasa Inggris. Silakan hubungi kami untuk mengetahui estimasi waktu pengiriman dan persyaratan dokumen bea cukai.
Siap Memesan atau Ada Pertanyaan Teknis?
Baik Anda membutuhkan model standar, konfigurasi probe khusus, atau ingin mendiskusikan sistem mana yang sesuai dengan jenis sampel dan alur kerja penelitian Anda — tim kami siap membantu.
📧 sales@testleadsworld.com
💬 WhatsApp: +86 13906512387
⏱ Balasan dalam waktu 12 jam