Vårt läge
Rum 503, block 1, Juzili Building, Sandun Town, Hangzhou City, Zhejiang-provinsen. China.
Precision i varje anslutning
Mätning av resistivitet och skiktresistans med hög precision
Mät resistivitet, ytmotstånd och volymmotstånd hos tunna filmer, halvledare, kiselplattor och fasta material med laboratoriekvalitet. Används av Tsinghua-universitetet, Beihang-universitetet och University of Queensland.
Förtroende från ledande forskningsinstitutioner
En fyrpolig mätare mäter elektrisk resistans, resistivitet och ytresistans hos fasta material genom att leda ström genom två yttre mätprober och mäta spänningen mellan två inre mätprober. Denna fyrpoliga metod eliminerar kontaktmotståndet från mätningen, vilket ger en betydligt högre noggrannhet än tvåpoliga metoder.
Det är den vanligaste metoden inom materialvetenskap och halvledarforskning för att karakterisera tunna skikt, halvledarskivor, ledande beläggningar och fasta prov i bulkform.
Obs! Fyrpunktsmätare är avsedda enbart för fasta material. Vätskor och pulver kan inte mätas direkt – vätskeprover måste först stelna till en tunn film innan mätningen kan utföras.
Tre modeller utformade för olika laboratoriebehov – från manuell drift på instegsnivå till helt automatiserad testning med hög genomströmning.
Fullständiga tekniska specifikationer för alla tre modellerna. Alla QSNTECH-instrument uppnår en mätosäkerhet på ≤2%, vilket är betydligt bättre än branschstandarden på ≤5%.
| Specifikation | SZT-2A | SZT-2B | SZT-2C |
|---|---|---|---|
| Resistivitetsområde | 10⁻⁴ ~ 10⁵ Ω·cm | 10⁻⁴ ~ 10⁶ Ω·cm | 10-⁵ ~ 10⁵ Ω-cm |
| Motstånd mot plåt | 10-⁴ ~ 10⁵ Ω/□ | 10-⁴ ~ 10⁶ Ω/□ | 10-⁴ ~ 10⁶ Ω/□ |
| Motståndsområde | 10-⁴ ~ 10⁵ Ω | 10⁻⁴ ~ 10⁶ Ω | 10-⁵ ~ 10⁵ Ω |
| Strömutgång | DC 0–100 mA 10 μA / 100 μA / 1 / 10 / 100 mA |
DC 0–100 mA 1 / 10 / 100 μA, 1 / 10 / 100 mA |
0,1 μA–100 mA Steglöst justerbar |
| Mätfel | ±0,51 TP3T ±1 siffra | ±0,51 TP3T ±1 siffra | ±0,11 TP3T (spänning) |
| Osäkerhet | ≤2% | ≤2% | ≤2% |
| Display | 4½-siffrig LCD-skärm | LCD | 4½-siffrig färg-LCD-skärm |
| Avstånd mellan prober | 1 mm | 1 mm | 1 mm ±0,01 mm Anpassningsbar |
| Material för sond | Tungstenskarbid | Tungstenskarbid | Tungstenskarbid |
| Provstorlek | Ø5–200 mm Längd ≤400 mm |
Ø5–200 mm Längd ≤400 mm |
Anpassningsbar |
| Korrigeringsfaktor | ✓ Automatisk | ✓ Automatisk | ✓ Automatisk |
| PC-programvara | ✓ Ingår | ✓ Ingår | ✓ USB + programvara |
| Plattform för automatiserad testning | — | Valfritt | ✓ Ingår |
| Strömförsörjning | 220 V ±10% 50/60 Hz <35 W |
220 V ±10% 50/60 Hz |
220 V ±10% 50/60 Hz |
| Bäst för | Standardmässig användning i laboratoriet Tunna filmer och skivor |
Forskning och halvledare Största mätområde |
Hög genomströmning Industri och automation |
Anmärkning om korrigeringsfaktorn: Alla tre modellerna tillämpar automatiskt den geometriska korrigeringsfaktorn (baserad på Smits formel) utifrån provets form och mått. Ange bara provets tjocklek och diameter – instrumentet beräknar rätt faktor utan manuell justering. Detta är särskilt viktigt för prov som inte är oändligt stora i förhållande till sondavståndet.
Fullständiga specifikationsblad finns att ladda ner nedan. Kontakta oss för att kontrollera kompatibiliteten med just din provtyp.
Proben är den viktigaste komponenten i ett fyrpunktsprobsystem. Valet av rätt geometri på probspetsen och rätt avstånd för just din provtyp påverkar direkt mätnoggrannheten.
Spetsradie på 1 mm. Lämplig för de flesta tunna filmprover och fasta provmaterial. Standardavstånd mellan sondarna på 1 mm.
Lämpligast för: Allmän laboratorieanvändning, tunna skikt, halvledarskivor
Mindre kontaktyta för ömtåliga eller tunna prover där lägre sondtryck och minimala ytskador krävs.
Lämpligast för: Ömtåliga filmer, mjuka halvledarytor
Avvikande sondavstånd kan ordnas för specifika provdimensioner eller forskningskrav. Kontakta oss med dina specifikationer.
Lämpar sig bäst för: Skräddarsydd forskning, icke-standardiserade urvalsstorlekar
Valfri uppgradering
Manuell placering av mätspetsen medför variationer i den kraft som utövas – en viktig källa till mätfel. Den automatiska testplattformen eliminerar detta genom att tillföra ett jämnt och kontrollerat tryck från mätspetsen vid varje mätning.
Alla system i SZT-serien levereras som ett komplett, färdigt paket. Inga ytterligare komponenter behövs för att påbörja mätningen.
Fullständig dokumentation finns tillgänglig före köpet. Granska specifikationer, driftsanvisningar och modelljämförelser innan du skickar din förfrågan.
Våra instrument används inom akademisk forskning, statliga laboratorier och industriella produktionsmiljöer.
Institutioner för materialvetenskap, fysik, elektronik och kemi som utför mätningar på tunnfilmsprover, halvledarsubstrat och forskningsprover.
Tsinghua · Beihang · Queensland
Statliga och privata forskningsinstitut som utför karakterisering av avancerade material, nya beläggningar och experimentella halvledarstrukturer, där mätnoggrannhet och spårbarhet av data är av avgörande betydelse.
Kvalitetskontroll av halvledarskivor, övervakning av tunnfilmsbeläggning, kontroll av jämnheten i ITO-beläggningen samt inkommande materialkontroll inom elektronikindustrin.
Utförliga handledningar skrivna ur tillverkarens perspektiv som hjälper dig att välja, använda och få ut mesta möjliga av ditt fyrpunktsmätningssystem.
Nej. Fyrpunktsmetoden kräver fasta prover med en stabil, plan yta. Vätskor kan inte mätas direkt. Om ditt prov består av ett material i flytande fas måste det först appliceras eller stelna till en tunn film innan mätningen kan utföras.
Resistiviteten (Ω·cm) är en materialegenskap som är oberoende av provets geometri. Skiktresistansen (Ω/□) används för tunna skikt där tjockleken är jämn – den anger resistansen per kvadrat, oavsett storlek. Våra instrument kan mäta och visa båda värdena direkt.
För de flesta laboratorier inom materialvetenskap eller elektronik vid universitet räcker det med modellen SZT-2A eller SZT-2B. Om ert laboratorium hanterar stora provvolymer, behöver genomföra batchtester eller arbetar med ömtåliga kiselskivor rekommenderas modellen SZT-2C med automatisk testplattform.
SZT-serien stödjer ett brett spektrum av provstorlekar. Den minsta användbara provytan beror på sondavståndet. Kontakta oss med uppgifter om dina specifika provmått så kan vi bekräfta kompatibiliteten och rekommendera korrigeringsfaktorer.
Ja. Alla tre modellerna levereras med PC-programvara för datainsamling, lagring och export. Programvaran visar mätresultaten i realtid och möjliggör dataexport för vidare analys i Excel eller laboratoriedatahanteringssystem.
Ja. Vi exporterar till universitet, forskningsinstitutioner och importörer över hela världen. Teknisk dokumentation, användarhandböcker och kundsupport tillhandahålls på engelska. Kontakta oss för information om leveranstider och krav på tulldokumentation.
Oavsett om du behöver en standardmodell, en specialanpassad sondkonfiguration eller vill diskutera vilket system som passar just din provtyp och ditt forskningsflöde – så står vårt team redo att hjälpa dig.