Mätning av resistivitet och skiktresistans med hög precision

Fyra-punkts provkroppstestare

Mät resistivitet, ytmotstånd och volymmotstånd hos tunna filmer, halvledare, kiselplattor och fasta material med laboratoriekvalitet. Används av Tsinghua-universitetet, Beihang-universitetet och University of Queensland.

Begär en offert Visa modeller
✓ Resistivitet ✓ Skiktresistans ✓ Motstånd mot bulk ✓ PC-programvara ingår ✓ Plattform för automatiska tester finns tillgänglig

Förtroende från ledande forskningsinstitutioner

🎓
Tsinghua-universitetet
Institutionen för materialvetenskap.
🎓
Beihang-universitetet
Forskningslaboratorium för elektronik
🎓
University of Queensland
Australien
🏭
20+ år
Erfarenhet inom tillverkningsbranschen

Vad är en fyrpunktsprovare?

En fyrpolig mätare mäter elektrisk resistans, resistivitet och ytresistans hos fasta material genom att leda ström genom två yttre mätprober och mäta spänningen mellan två inre mätprober. Denna fyrpoliga metod eliminerar kontaktmotståndet från mätningen, vilket ger en betydligt högre noggrannhet än tvåpoliga metoder.

Det är den vanligaste metoden inom materialvetenskap och halvledarforskning för att karakterisera tunna skikt, halvledarskivor, ledande beläggningar och fasta prov i bulkform.

Obs! Fyrpunktsmätare är avsedda enbart för fasta material. Vätskor och pulver kan inte mätas direkt – vätskeprover måste först stelna till en tunn film innan mätningen kan utföras.

Vad som kan mätas

✓ Tunna skikt
✓ Kiselplattor
✓ Halvledarmaterial
✓ Ledande beläggningar
✓ ITO-glas
✓ Metallfolier
✓ Prov på lösa material i bulk
✓ Stelnade tunna filmer

Användningsområden

✗ Flytande prover
✗ Pulverformiga material

Välj modell

Tre modeller utformade för olika laboratoriebehov – från manuell drift på instegsnivå till helt automatiserad testning med hög genomströmning.

SZT-2A provkroppsprovare med fyra punkter
Nybörjarnivå

SZT-2A

Kompakt och användarvänlig. Manuell drift med särskild PC-programvara. Perfekt för standardmätning av resistivitet i tunna skikt. Volframprober, automatisk korrigeringsfaktor, LCD-display.

  • Manuell sondhantering
  • LCD-skärm
  • PC-programvara ingår
  • Automatisk korrigeringsfaktor
  • 1 mm volframspetsar
Visa information om SZT-2A
Mest populära
SZT-2B fyrpunktsprobmätare
Standard

SZT-2B

Avancerad kretsteknik med tydlig LCD-skärm och fullständig integration med PC-programvara. Lämplig för olika tillämpningar inom laboratorie- och halvledarforskning som kräver högre mätningshastighet och datahantering.

  • Avancerade mätkretsar
  • Överskådligt LCD-gränssnitt
  • PC-programvara med dataexport
  • Snabb mätcykel
  • Stöd för testning av halvledare
Visa information om SZT-2B
SZT-2C fyrpunktsprovare
Avancerat

SZT-2C

Fullständigt stöd för automatisering med en anpassningsbar testplattform. Perfekt för industri- och forskningsmiljöer med hög genomströmning. Exakta volframprober, automatiserad dataanalys och anpassningsbart provbord.

  • Stöd för automatiserade testplattformar
  • Anpassningsbart provbord
  • Automatiserad dataanalys
  • Industri- och forskningsklass
  • Kapacitet för hög genomströmning
Visa information om SZT-2C

Detaljerad modelljämförelse

Fullständiga tekniska specifikationer för alla tre modellerna. Alla QSNTECH-instrument uppnår en mätosäkerhet på ≤2%, vilket är betydligt bättre än branschstandarden på ≤5%.

Specifikation SZT-2A SZT-2B SZT-2C
Resistivitetsområde 10⁻⁴ ~ 10⁵ Ω·cm 10⁻⁴ ~ 10⁶ Ω·cm 10-⁵ ~ 10⁵ Ω-cm
Motstånd mot plåt 10-⁴ ~ 10⁵ Ω/□ 10-⁴ ~ 10⁶ Ω/□ 10-⁴ ~ 10⁶ Ω/□
Motståndsområde 10-⁴ ~ 10⁵ Ω 10⁻⁴ ~ 10⁶ Ω 10-⁵ ~ 10⁵ Ω
Strömutgång DC 0–100 mA
10 μA / 100 μA / 1 / 10 / 100 mA
DC 0–100 mA
1 / 10 / 100 μA, 1 / 10 / 100 mA
0,1 μA–100 mA
Steglöst justerbar
Mätfel ±0,51 TP3T ±1 siffra ±0,51 TP3T ±1 siffra ±0,11 TP3T (spänning)
Osäkerhet ≤2% ≤2% ≤2%
Display 4½-siffrig LCD-skärm LCD 4½-siffrig färg-LCD-skärm
Avstånd mellan prober 1 mm 1 mm 1 mm ±0,01 mm
Anpassningsbar
Material för sond Tungstenskarbid Tungstenskarbid Tungstenskarbid
Provstorlek Ø5–200 mm
Längd ≤400 mm
Ø5–200 mm
Längd ≤400 mm
Anpassningsbar
Korrigeringsfaktor ✓ Automatisk ✓ Automatisk ✓ Automatisk
PC-programvara ✓ Ingår ✓ Ingår ✓ USB + programvara
Plattform för automatiserad testning — Valfritt ✓ Ingår
Strömförsörjning 220 V ±10%
50/60 Hz <35 W
220 V ±10%
50/60 Hz
220 V ±10%
50/60 Hz
Bäst för Standardmässig användning i laboratoriet
Tunna filmer och skivor
Forskning och halvledare
Största mätområde
Hög genomströmning
Industri och automation

Anmärkning om korrigeringsfaktorn: Alla tre modellerna tillämpar automatiskt den geometriska korrigeringsfaktorn (baserad på Smits formel) utifrån provets form och mått. Ange bara provets tjocklek och diameter – instrumentet beräknar rätt faktor utan manuell justering. Detta är särskilt viktigt för prov som inte är oändligt stora i förhållande till sondavståndet.

Fullständiga specifikationsblad finns att ladda ner nedan. Kontakta oss för att kontrollera kompatibiliteten med just din provtyp.

Varför QSNTECH framför andra tillverkare?

≤2%
Mätosäkerhet
vs ≤5%, vilket är typiskt för inhemska konkurrenter
0,1 mΩ
Minsta upplösning
Högprecisionskretsar för prover med låg resistans
WC
Sonder av volframkarbid
Överlägsen de sondar av snabbstål som används av andra märken
Auto
Korrigeringsfaktor
Ingen manuell justering krävs — alla modeller

Guide för val av sond

Proben är den viktigaste komponenten i ett fyrpunktsprobsystem. Valet av rätt geometri på probspetsen och rätt avstånd för just din provtyp påverkar direkt mätnoggrannheten.

Standardprober av volfram

Spetsradie på 1 mm. Lämplig för de flesta tunna filmprover och fasta provmaterial. Standardavstånd mellan sondarna på 1 mm.

Lämpligast för: Allmän laboratorieanvändning, tunna skikt, halvledarskivor

Sonder med fin spets

Mindre kontaktyta för ömtåliga eller tunna prover där lägre sondtryck och minimala ytskador krävs.

Lämpligast för: Ömtåliga filmer, mjuka halvledarytor

Anpassat avstånd mellan proberna

Avvikande sondavstånd kan ordnas för specifika provdimensioner eller forskningskrav. Kontakta oss med dina specifikationer.

Lämpar sig bäst för: Skräddarsydd forskning, icke-standardiserade urvalsstorlekar

Läs hela guiden för val av sond →
Automatisk testplattform med fyra mätprober

Valfri uppgradering

Varför välja den automatiska testplattformen?

Manuell placering av mätspetsen medför variationer i den kraft som utövas – en viktig källa till mätfel. Den automatiska testplattformen eliminerar detta genom att tillföra ett jämnt och kontrollerat tryck från mätspetsen vid varje mätning.

1
Jämnt tryck på mätspetsen
Eliminerar variationen som beror på operatören. Varje mätning utförs med samma kontrollerade kraft.
2
Förlängd livslängd för sonden
En kontrollerad nedstigning minskar den mekaniska belastningen på sondspetsarna, vilket avsevärt minskar både utbytesfrekvensen och kostnaderna.
3
Högre genomströmning
Snabbare mätcykler med repeterbar positionering. Perfekt för kvalitetskontroll i produktionen och provtagning i stor skala inom forskningen.
4
Skydd av prov
Förhindrar att ömtåliga eller dyra prover skadas på grund av för hårt manuellt tryck.

Vad ingår

Alla system i SZT-serien levereras som ett komplett, färdigt paket. Inga ytterligare komponenter behövs för att påbörja mätningen.

🖥️
Huvudutrustning
Med USB-gränssnitt och 4½-siffrig LCD-display
🔧
Automatisk testram
Automatisk avkänningsanordning som reglerar sondtrycket
💾
PC-programvara
Datainsamling, lagring och export
📖
Engelsk bruksanvisning
Fullständig drifts- och specifikationsdokumentation
🔌
Kabel
Anslutningskabel för mätproben
📍
4-punkts mät huvud
Spetsar av volframkarbid, 1 mm avstånd

Vem använder fyrpunktsprovare?

Våra instrument används inom akademisk forskning, statliga laboratorier och industriella produktionsmiljöer.

🎓

Universitetsinstitutioner

Institutioner för materialvetenskap, fysik, elektronik och kemi som utför mätningar på tunnfilmsprover, halvledarsubstrat och forskningsprover.

Tsinghua · Beihang · Queensland

🔬

Forskningsinstitutioner

Statliga och privata forskningsinstitut som utför karakterisering av avancerade material, nya beläggningar och experimentella halvledarstrukturer, där mätnoggrannhet och spårbarhet av data är av avgörande betydelse.

🏭

Halvledare och industri

Kvalitetskontroll av halvledarskivor, övervakning av tunnfilmsbeläggning, kontroll av jämnheten i ITO-beläggningen samt inkommande materialkontroll inom elektronikindustrin.

Tekniska resurser

Utförliga handledningar skrivna ur tillverkarens perspektiv som hjälper dig att välja, använda och få ut mesta möjliga av ditt fyrpunktsmätningssystem.

📋
Hur man väljer en fyrpunktsprovare
Viktiga parametrar att beakta före köpet — strömräckvidd, provstorlek, sondavstånd och automatiseringsbehov.
🎓
Inköpsguide för universitetslaboratorier
Praktisk inköpsguide för institutioner inom materialvetenskap och elektronik – vad man bör specificera och vad man bör undvika.
🔬
Fyrpunktsprob för tunna skikt
Hur man noggrant mäter ytmotstånd och resistivitet hos tunnfilmsprover med hjälp av riktlinjer för korrigeringsfaktorer.
⚡
Olika tillämpningar av fyrpunktsprober
Från halvledarskivor till ITO-glas – en omfattande översikt över mätapplikationer och provtyper.
🤖
Testplattform för automatisk respektive manuell körning
En detaljerad jämförelse mellan automatiska och manuella probstativ – noggrannhet, probens livslängd, genomströmning och kostnad.
🔩
Guide för val av sond
Hur man väljer sondspetsens geometri, avstånd och material för just din provtyp och mätapplikation.

Vanliga frågor och svar

Kan jag mäta vätskor eller pulver?

Nej. Fyrpunktsmetoden kräver fasta prover med en stabil, plan yta. Vätskor kan inte mätas direkt. Om ditt prov består av ett material i flytande fas måste det först appliceras eller stelna till en tunn film innan mätningen kan utföras.

Vad är skillnaden mellan resistivitet och skiktresistans?

Resistiviteten (Ω·cm) är en materialegenskap som är oberoende av provets geometri. Skiktresistansen (Ω/□) används för tunna skikt där tjockleken är jämn – den anger resistansen per kvadrat, oavsett storlek. Våra instrument kan mäta och visa båda värdena direkt.

Vilken modell passar bäst för mitt universitetslaboratorium?

För de flesta laboratorier inom materialvetenskap eller elektronik vid universitet räcker det med modellen SZT-2A eller SZT-2B. Om ert laboratorium hanterar stora provvolymer, behöver genomföra batchtester eller arbetar med ömtåliga kiselskivor rekommenderas modellen SZT-2C med automatisk testplattform.

Vilka provstorlekar och tjocklekar kan mätas?

SZT-serien stödjer ett brett spektrum av provstorlekar. Den minsta användbara provytan beror på sondavståndet. Kontakta oss med uppgifter om dina specifika provmått så kan vi bekräfta kompatibiliteten och rekommendera korrigeringsfaktorer.

Erbjuder ni PC-programvara och dataexport?

Ja. Alla tre modellerna levereras med PC-programvara för datainsamling, lagring och export. Programvaran visar mätresultaten i realtid och möjliggör dataexport för vidare analys i Excel eller laboratoriedatahanteringssystem.

Kan ni skicka varor utomlands och erbjuda teknisk support?

Ja. Vi exporterar till universitet, forskningsinstitutioner och importörer över hela världen. Teknisk dokumentation, användarhandböcker och kundsupport tillhandahålls på engelska. Kontakta oss för information om leveranstider och krav på tulldokumentation.

Är du redo att beställa eller har du en teknisk fråga?

Oavsett om du behöver en standardmodell, en specialanpassad sondkonfiguration eller vill diskutera vilket system som passar just din provtyp och ditt forskningsflöde – så står vårt team redo att hjälpa dig.

📧 sales@testleadsworld.com 💬 WhatsApp: +86 13906512387 ⏱ Svar inom 12 timmar
gutengbao bianji-tack